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产品[半导体检测系统]资料

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产品名称: 半导体检测系统
产品型号: 半导体检测系统
产品展商: 广精精密仪器
简单介绍
半导体检测系统-微焦点X射线实时成像检测系统由高频高压微焦点X射线源、X射线图像传感器、计算机、四维机械平台等组成的微焦点X射线实时成像检测系统,是集现代计算机软件技术、精密机械制造技术、光学技术、电子技术、传感器技术、无损检测技术和图像处理技术等于一体的高科技产品。是进行产品研究、失效分析、高可靠筛选、质量评价、改进工艺等工作的有效手段。 联系人:丘永达 电话:020-80905357/87684676/89814538 手机:13580381135/13958262636/13450405006/13450405008
半导体检测系统的详细介绍
半导体检测系统-微焦点X射线实时成像检测系统
产品介绍
微焦点X射线实时成像检测系统

WJD-100型

由高频高压微焦点X射线源、X射线图像传感器、计算机、四维机械平台等组成的微焦点X射线实时成像检测系统,是
集现代计算机软件技术、精密机械制造技术、光学技术、电子技术、传感器技术、无损检测技术和图像处理技术等于一体的高科技产品。是进行产品研究、失效分析、高可靠筛选、质量评价、改进工艺等工作的有效手段。

适用范围

·适用于BGA、CSP、Flip chip的检测

·PCB板焊接情况检测

·短路、开路、空洞、冷焊

·IC封装检测

·电容、电阻等元器件

·金属材料、介质材料的内部缺陷

·轻质材料的内部结构以及组件

·电热管、锂电池、珍珠、精密器件等

全新的高级图像处理系统
主要技术指标

·可选择检查断线、装配图形模式;

·正/负像、边缘增强;

·存储、打印、DVD读写多种输出方式;

·放大、缩小、尺寸测量、面积测量、周长测量;

·自动测量空洞百分比;

·BGA焊球测量技术;

·图像分割、图像比对;

·图像打标记功能;

·图像汉、英文字及数字添加功能;

·窗口窗位技术;

·两种以上的存储格式,方便用户使用需要;

·高级检测报告功能;

高频高压发生装置

高压逆变频率:40 KHz

管电压调节范围:20~100 KV

管电流调节范围:10~500 uA

最高额定管电流:500 uA

焦点尺寸:50 u

冷却方式:风冷

系统分辨率大于 50LP/cm

放大倍数 240倍

机械检测平台

检测平台可沿X-Y-Z三轴移动,倾斜40度
工作环境

有检测电气元器旋转架

X轴 260mm

Y轴 260mm

Z轴 260mm

电源电压:AC220V ± 10%

电源频率:50/60 Hz

环境温度:0~40 ℃

安全标准:符合 GBZ117-2002 标准

检测实例

联系人:丘永达 电话:020-80905357,13450405008,13958262636 E-mail:cnhld@163.com

 
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联系电话:020-87683529/020-87684676/020-80905357  传真:020-87684676   Email:cnhld@163.com

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